NF C96-022/A1-2002 半导体器件.机械性能和气候试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-04-18 15:20:44 浏览:8350
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods.
【原文标准名称】:半导体器件.机械性能和气候试验方法
【标准号】:NFC96-022/A1-2002
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2002-02-01
【实施或试行日期】:2002-02-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:13P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.机械性能和气候试验方法
【标准号】:NFC96-022/A1-2002
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2002-02-01
【实施或试行日期】:2002-02-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:13P;A4
【正文语种】:其他
下载地址: 点击此处下载