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DIN EN 13463-2-2005 潜在爆炸性环境中使用的非电气设备.第2部分:流量限制封装型"fr"保护设备

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 05:44:08  浏览:9289   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Non-electricalequipmentforuseinpotentiallyexplosiveatmospheres-Part2:Protectionbyflowrestrictingenclosure'fr';GermanversionEN13463-2:2004
【原文标准名称】:潜在爆炸性环境中使用的非电气设备.第2部分:流量限制封装型"fr"保护设备
【标准号】:DINEN13463-2-2005
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2005-02
【实施或试行日期】:2005-02-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K35
【国际标准分类号】:13_230
【页数】:15P;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:带电粒子半导体探测器测试方法
英文名称:Test procedures for semiconductor charged particle detectors
中标分类: 能源、核技术 >> 核仪器与核探测器 >> 核仪器与核探测器综合
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 辐射测量
替代情况:GB 5201-1985;被GB/T 5201-2012代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1994-01-02
实施日期:1995-10-01
首发日期:1985-07-18
作废日期:2012-11-01
主管部门:国防科学技术工业委员会
归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会
起草单位:北京核仪器厂
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:17, 字数:29千字
适用范围

本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准执行。

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所属分类: 能源 核技术 核仪器与核探测器 核仪器与核探测器综合 计量学和测量 物理现象 辐射测量