SJ 1601-1980 BT33型硅双基极二极管
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来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | BT33型硅双基极二极管 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
半导体二极管 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2002-05-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体二极管
基本信息
| 标准名称： | 双层屏指示管用G11荧光粉 |
| 英文名称： | Phosphor G11 for double-decker screen indicator tubes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子设备专用材料、零件、结构件 >>
电子技术专用材料 |
| ICS分类： |
|
| 发布部门： | 中华人民共和国机械电子工业部 |
| 发布日期： | 1988-10-09 |
| 实施日期： | 1989-10-01 |
| 首发日期： | 1988-12-30 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国机械电子工业部 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 机械电子工业部电子标准化研究所、成都红光电子管厂、南京华东电子管厂、中国科学院长春物理研究所、北京化工厂、上海荧光材料厂和陕西彩色显象管总厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 4页 |
适用范围
本标准规定了G11荧光粉的性能、指标及其测试方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料
【英文标准名称】:Destructivetestsonweldsinmetallicmaterials-Hardnesstesting-Part1:hardnesstestonarcweldedjoints.
【原文标准名称】:金属材料焊接的破坏性试验.硬度试验.第1部分:弧焊接头的硬度试验.
【标准号】:NFA89-204-1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-05-01
【实施或试行日期】:2011-05-13
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Arcwelding;Buttjoints;Destructivetesting;Hardnessmeasurement;Materials;Materialstesting;Metalwelding;Metallicmaterials;Metals;Testing;Vickers;Vickershardnessmeasurement;Weldedjoints;Welding;Weldingengineering;Welds
【摘要】:
【中国标准分类号】:J33
【国际标准分类号】:25_160_40
【页数】:20P;A4
【正文语种】:其他
